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    Il microscopio a forza magnetica assistito da un vano portaoggetti offre un'immagine più semplice di campioni sensibili all'aria
    Topografia e immagini MFM del cristallo sfuso CrI3 a 5 K e in campi fino a 11,9 T. Credito:Zhang Yuchen

    Un gruppo di ricerca guidato dal Prof. Lu Qingyou dell'Hefei Institutes of Physical Science (HFIPS) dell'Accademia cinese delle scienze (CAS) ha ottenuto una svolta creando un microscopio a forza magnetica (MFM) in grado di visualizzare materiali sensibili all'aria senza richiedere la protezione della superficie rivestimenti.



    Pubblicato in Recensione di strumenti scientifici , questa invenzione evidenzia un progresso significativo nella strumentazione scientifica.

    Lo studio delle caratteristiche magnetiche nei materiali bidimensionali di van der Waals è estremamente promettente per applicazioni nella spintronica e nell'archiviazione di dati ad alta densità grazie alle loro strutture magnetiche su scala nanometrica e atomica. Tuttavia, la sensibilità all'aria rende difficile caratterizzare direttamente le proprietà magnetiche intrinseche di questi materiali.

    In questa ricerca, il sistema MFM compatto affronta questa sfida fornendo un ambiente controllato per l'imaging di materiali sensibili all'aria con precisione e affidabilità.

    "È piccolo", ha detto il dottor Zhang Yuchen, un membro del team, "e poiché il microscopio può essere smontato, siamo in grado di condurre l'intero processo in un gas inerte con l'aiuto di un vano portaoggetti."

    Ciò a cui si riferisce è un'esclusiva camera sigillata staccabile della sonda MFM. Quando si spostano campioni sensibili da un vano portaoggetti a un ambiente a bassa temperatura e ad alto campo magnetico, può proteggerli efficacemente dall'esposizione all'aria.

    Il microscopio a forza magnetica assistito da un vano portaoggetti offre un'immagine più semplice dei campioni sensibili all'aria. Credito:Zhao Weiwei

    Ciò garantisce l'integrità e la pulizia della superficie del campione, consentendo l'acquisizione di immagini ad alta risoluzione che rivelano le strutture magnetiche intrinseche di materiali come il triioduro di cromo (CrI3 ).

    Lo sviluppo di successo di questo sistema MFM assistito dal vano portaoggetti segna un significativo passo avanti nella tecnologia della microscopia magnetica. "Apre la strada al futuro progresso nella ricerca sui materiali magnetici e ai dispositivi di memorizzazione magnetica di prossima generazione", ha affermato il dott. Zhang.

    Ulteriori informazioni: Yuchen Zhang et al, Microscopio a forza magnetica assistito da Glovebox per lo studio di campioni sensibili all'aria in un magnete privo di criogeno, Review of Scientific Instruments (2024). DOI:10.1063/5.0186587

    Fornito dagli Istituti di scienze fisiche Hefei, Accademia cinese delle scienze




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