Un gruppo di ricerca guidato dal Prof. Lu Qingyou dell'Hefei Institutes of Physical Science (HFIPS) dell'Accademia cinese delle scienze (CAS) ha ottenuto una svolta creando un microscopio a forza magnetica (MFM) in grado di visualizzare materiali sensibili all'aria senza richiedere la protezione della superficie rivestimenti.
Lo studio delle caratteristiche magnetiche nei materiali bidimensionali di van der Waals è estremamente promettente per applicazioni nella spintronica e nell'archiviazione di dati ad alta densità grazie alle loro strutture magnetiche su scala nanometrica e atomica. Tuttavia, la sensibilità all'aria rende difficile caratterizzare direttamente le proprietà magnetiche intrinseche di questi materiali.
In questa ricerca, il sistema MFM compatto affronta questa sfida fornendo un ambiente controllato per l'imaging di materiali sensibili all'aria con precisione e affidabilità.
"È piccolo", ha detto il dottor Zhang Yuchen, un membro del team, "e poiché il microscopio può essere smontato, siamo in grado di condurre l'intero processo in un gas inerte con l'aiuto di un vano portaoggetti."
Ciò a cui si riferisce è un'esclusiva camera sigillata staccabile della sonda MFM. Quando si spostano campioni sensibili da un vano portaoggetti a un ambiente a bassa temperatura e ad alto campo magnetico, può proteggerli efficacemente dall'esposizione all'aria.