Un microscopio elettronico a scansione (SEM) è un tipo di microscopio che produce un'immagine scansionando la superficie di un campione con un fascio di elettroni. Gli elettroni interagiscono con gli atomi nel campione e gli elettroni secondari risultanti vengono rilevati e utilizzati per creare un'immagine. I SEM possono produrre immagini ad alta risoluzione della superficie di un campione e vengono spesso utilizzati per studiare la microstruttura dei materiali.