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    Cosa utilizza il microscopio a forza atomica come scansione della sonda?
    Un microscopio a forza atomica (AFM) utilizza una punta nitida come sonda per la scansione. Questa punta è in genere realizzata con un materiale duro come silicio o nitruro di silicio ed è attaccata a un cantilever, un raggio piccolo e flessibile.

    Ecco una rottura di come funziona:

    * Il suggerimento: La punta è incredibilmente acuta, spesso con un raggio di curvatura di pochi nanometri. Ciò gli consente di interagire con i singoli atomi in superficie che vengono scansionati.

    * Il cantilever: Il cantilever è un piccolo raggio che vibra a una frequenza specifica. La punta è attaccata all'estremità del cantilever.

    * Scansione: L'AFM scansiona la superficie spostando la punta attraverso di essa in uno schema raster.

    * Interazione: Poiché la punta incontra le caratteristiche in superficie, sperimenta forze (forze di van der Waals, forze elettrostatiche, ecc.).

    * Rilevamento: Queste forze fanno piegare o deviare il cantilever. Questa deflessione viene rilevata da un raggio laser riflesso dalla parte posteriore del cantilever su un sensore.

    * Formazione di immagine: Il sensore rileva i cambiamenti nel raggio laser riflesso, che vengono quindi utilizzati per costruire un'immagine della superficie.

    La capacità dell'AFM di immaginare le superfici a livello atomico è dovuta alla punta incredibilmente affilata e alla sensibilità del cantilever e del sistema di rilevamento.

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